祝賀半導體封測大會圓滿結束

為期兩天的中國國際半導體封測大會暨封測“年度最佳品牌獎”頒獎典禮圓滿結束。祝賀上海柏毅試驗設備有限公司獲得“2022-2023中國半導體封測設備最佳品牌獎”。

本次大會上海柏毅展出了適用于半導體后道測試的半導體測試設備PCT高壓加速老化測試箱（又名PCT高壓加速老化試驗箱、PCT試驗箱等）、溫度循環試驗箱（快速溫度循環試驗箱）。

PCT高壓加速老化測試也稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗,將被測品放置在嚴苛的溫度、飽和濕度(100%RH飽和水蒸氣）及壓力環境下測試,檢測被測品耐高濕能力。針對PCB&FPC用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等試驗目的。如果被測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝的抗濕氣能力。將被測品放置在嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝異常,濕氣會通過膠體或膠體與導線架之間的接口滲入封裝體中。常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產品密封性能的檢測。

快速溫度循環試驗箱又稱快速溫變試驗箱、快速熱循環試驗箱、快速溫變高低溫試驗箱、溫度快速循環箱、ESS環境應力篩選試驗箱、高低溫濕熱快速變化試驗箱等。快速溫度循環試驗箱可實現高溫和低溫在設定的時間頻率內進行快速切換，檢測被測品在溫度快速變化情況下的可靠性。