PCT（Pressure Cooker Test）試驗箱是一種用于評估產品在高溫、高濕環境下的可靠性和穩定性的測試設備。又稱PCT老化試驗箱、PCT試驗機、PCT高壓加速壽命老化試驗箱等,主要用于對電工、電子產品、元器件、零部件、金屬材料及其磁性材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理以及其它相關性能進行測試，通過檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、檢定及出廠檢驗試驗。

PCT試驗箱的應用場景

在電子電工領域，特別是印刷線路板和半導體行業中， PCT 試驗箱主要用于材料的穩定性、耐壓性、導電性等方面的性能的測試，可以評估材料的性能和可靠性，為優化生產工藝、提高產品質量和確保器件安全提供有力支持。

在印刷線路板（PCB）行業，PCT試驗箱可以用在：

材料篩選：在PCB、FPC等制造過程中，需要選用具有良好耐熱性、耐壓性、導熱性等性能的材料。通過 PCT 試驗，可以篩選出適合高溫高壓環境的材料，以確保印刷線路板的可靠性和穩定性。

工藝優化：PCT 試驗可用于評估不同生產工藝對印刷線路板材料性能的影響。通過對比不同工藝條件下印刷線路板的 PCT 試驗結果，可以優化生產工藝，提高印刷線路板的性能。

可靠性評估：通過 PCT 試驗，可以評估印刷線路板在高溫高壓環境下的可靠性，為其在實際應用中提供可靠保障。

半導體行業，PCT試驗箱可以用在：

封裝材料評估：半導體器件的封裝材料需要具備良好的耐熱性、耐壓性、導熱性等性能。使用PCT試驗箱進行PCT 試驗可以幫助評估封裝材料在高溫高壓環境下的穩定性，以確保半導體器件的可靠性和安全性。

芯片制造工藝優化：在芯片制造過程中，各種薄膜材料、介質材料都需要經過 PCT 試驗，以確保其在生產過程中的穩定性和可靠性。通過 PCT 試驗，可以評估芯片制造過程中不同工藝步驟對材料性能的影響，進而優化工藝參數。

可靠性評估：PCT 試驗可用于評估半導體器件在高溫高壓環境下的可靠性。通過對半導體器件進行長時間的壓力鍋測試，可以觀察其在不同時間尺度上的性能變化，從而為半導體器件的可靠性設計提供參考。

失效分析：在半導體器件出現失效時，PCT 試驗可以作為一種有效的分析手段。通過對失效樣品進行壓力鍋測試，觀察其性能變化，找出失效原因，為半導體器件的改進提供依據。

PCT試驗箱的特點Features:

1.采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在很大程度上降低了使用故障率

2.單獨的蒸氣發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞

3.門鎖省力結構，解決首代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提升壓力穩 定性、再現性

5.超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉1000小時P

6.水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護。 

7.tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg

8.安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕。

PCT試驗箱技術方案（參考）：